電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)の新規導入および利用講習会のお知らせ

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位


平素は共同機器のご利用および運用のご協力をいただきまして、ありがとうございます。

本センターでは、昨年12月末に新しい共同利用機器として、エネルギー分散型X線分析(EDS)検出器を
備えた電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)を機器分析部門へ新規導入し、2月より運用を開始します。

詳細は、http://www.csrea.kobe-u.ac.jp/syousai_fesem.htmlに記載しておりますので、ご興味を
持たれた方はご覧ください。皆様のご利用をお待ちしております。


また、装置の運用開始にともないまして、グループ代表者向け講習会を下記の通り開催いたします。


 日時: 2月4日(月)、5日(火) 10時~16時(両日とも同じ講習内容)
 場所:研究基盤センター機器分析部門3階310室
 講習内容:FE-SEM、EDS測定方法
 講習者:機器分析部門保守担当者(海津、森田)


講習参加の申し込みをされていないグループ代表者の方で、参加を希望される方は機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp)までご連絡ください。

装置および講習会に関してご不明な点がありましたら、保守担当者(海津、森田(内線6402、6420))まで
お問い合わせください。