走査型分析電子顕微鏡(SEM)講習会のお知らせ

研究基盤センター機器分析部門
利用グループ教職員各位


平素は研究基盤センター共同機器をご利用いただき、ありがとうございます。
下記日程で走査型分析電子顕微鏡(SEM)利用講習会を行いますので、受講を希望されるグループは代表者(原則として教職員)の方のご参加をよろしくお願いいたします。
なお、事前に受講希望のご連絡をいただけますと幸いです(すでにご連絡いただいております方のご連絡は不要です)

 場所:機器分析部門棟2階209室
 日時: 5月29日(水)10:00~15:00
 講習者: 堀場テクノサービス担当者
 講習内容: (午前)SEM測定
       (午後)SEM-EDS測定(希望がある場合のみ)

教職員の方がどなたもご都合がつかない場合には、学生が代理で受講されても結構ですが、 後日その学生からグループ内教職員およびその他学生へグループ内講習を行っていただきますようお願いいたします。
また、学生を含めてどなたも参加できない場合には、別途対応いたしますのでご連絡ください。

講習についてご不明な点等ございましたら、機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp、内線6402、6420) までお問い合わせください。