研究基盤センター機器分析部門
利用グループ教職員各位
平素は研究基盤センター共同機器をご利用いただき、ありがとうございます。
下記日程で原子間力顕微鏡（AFM）利用講習会を行いますので、受講を希望されるグループは代表者（原則として教職員）の方のご参加をよろしくお願いいたします。
なお、事前に受講希望のご連絡をいただけますと幸いです（すでにご連絡いただいております方のご連絡は不要です）
場所：機器分析部門棟3階304室
日時： 6月6日（木）10:00～12:00
講習者： 機器分析部門保守担当者（海津）
講習内容： 基本モード：大気中・液中のAFM,DFM
教職員の方がどなたもご都合がつかない場合には、学生が代理で受講されても結構ですが、
後日その学生からグループ内教職員およびその他学生へグループ内講習を行っていただきますようお願いいたします。
また、学生を含めてどなたも参加できない場合には、別途対応いたしますのでご連絡ください。
講習についてご不明な点等ございましたら、機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp、内線6402、6420) までお問い合わせください。