研究基盤センター機器分析部門 利用者各位
FE-SEM装置におきまして、現在フォーカスを変化した際に観察位置が大きく飛ぶ不具合が生じており、 フォーカスが非常に合わせ難い状態です。予約・ご使用の際はご注意ください。
メーカーによるメンテナンスを今後行う予定でおりますが、復旧しましたらご連絡いたします。 ご不便をおかけしまして、大変申し訳ありませんが、なにとぞよろしくお願いいたします。