研究基盤センター機器分析部門 利用者各位
FE-SEM装置におきまして、フォーカスを変化した際に観察位置が大きく飛ぶ不具合が生じ、利用者の みなさまにはご不便をおかけしておりましたが、現在は解消して通常通りご使用いただけます。