各位
このたび機器分析部門ではメーカーの方による原子間力顕微鏡装置(AFM）のミニセミナーを下記の通り行うことになりました。
これから原子間力顕微鏡装置(AFM)のご利用を検討している方や，すでにご利用されている方の操作の再確認・質問等の目的での参加も歓迎します。
ご興味のある方は学内・学外を問わずお気軽にご参加ください。学生さんの参加も大歓迎です。
〈セミナー概要〉
日時：11月6日（水） 13時30分～15時00分頃(終了時間は若干前後する場合がございます)
場所：研究基盤センター 機器分析部門棟 3階306会議室
講師：株式会社日立ハイテクノロジーズ 解析システム部 栃本貴志氏
内容：AFMの基礎と応用～～～各種サンプルに対してどんな情報が得られるのか～～～
AFMをこれから始められる初心者の方，使い始められてさらに深く知りたい方に向けて，
AFMの原理，動作から簡単な操作方法までを説明します。
さらに実際のサンプルにおいてどのような計測，観察，物性評価結果が得られるかを各測定モードとともにご紹介します。
（AFM装置室での実機の確認は満員になりましたのでお申し込みを終了させて頂きました）
＊＊＊案内チラシ＊＊＊
研究基盤センター機器分析部門へのアクセス↓(六甲台キャンパス)
http://www.csrea.kobe-u.ac.jp/aboutus_access.html
なお，準備の都合上，11月1日(金曜日）15：00までにお申込みいただきますようお願い致します。
お席に空きがある場合は当日会場にて参加を受付いたしますが，配布資料は事前申込者を優先します。
連絡・問い合わせ先：研究基盤センター機器分析部門
担当：谷口（ktaniguchi@people.kobe-u.ac.jp、☎078-803-6420(内線6420))