走査型分析電子顕微鏡(SEM)の不具合について

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位


SEM装置におきまして、走査画像が表示されない不具合のため、ご利用できない状態になっております。

利用者のみなさまにはご不便をおかけしまして大変申し訳ありませんが、メーカーによる修理が完了しましたら改めてご連絡させていただきます。

よろしくお願いいたします。


保守担当 高橋