走査型分析電子顕微鏡(SEM)の不具合解消のお知らせ

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位

SEM装置の走査画像が表示されない不具合につきまして、修理が完了し、ご使用いただける状態になりました。
利用者のみなさまにはご不便をおかけしまして大変申し訳ありませんでした。