走査型光電子分光分析装置(SPES)の不具合について

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位


現在、光電子分光分析装置(SPES)において不具合が生じ、測定できない状態になっております。
利用者のみなさまにはご不便をおかけしまして大変申し訳ありませんが、メーカー修理が完了しましたら改めてご連絡させていただきます。
早期復旧に向けて調整中ですので、何卒よろしくお願いいたします 。

保守担当 高橋