各位
いつも機器分析部門の運用にご協力いただきまして、ありがとうございます。
このたび研究基盤センター機器分析部門では、日本電子株式会社大阪支店様のご協力により、
卓上SEM：JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡の観察体験会を開催
することとなりました。
当部門では高性能なFE-SEMを設置しておりますが、大きな試料を観察できない、真空引きに時間がかかるなど不便な点もございます。
また、SEM観察に不慣れなうちは視野探しにも手間取ってしまうものです。
このたび、より簡便にSEM観察を行える装置として、卓上SEMの導入検討のためのデモンストレーションを企画した次第です。
昨今の卓上SEMは性能・操作性とも進化を遂げており、研究用としても使用できるスペックを備えております。
JCM-7000は光学像から視野を選択し、簡単な操作で初心者でもスムーズに観察を行うことができます。
真空引きに要する時間も短時間で、試料ステージも大きいため、観察効率の向上も期待できます。
製品情報：https://www.jeol.co.jp/products/detail/JCM-7000.html
本体験会ではJCM-7000がどのような装置で、どのように観察・解析ができるか、実際に普段観察されている試料でお試しいただけます。
なお、機器更新のための需要調査を目的としているため、お申込みは原則として経費負担者，グループリーダーの方からお願いします。また、簡単なアンケートにお答えいただくことを参加の条件とさせていただきます。
本学所属であれば研究基盤センターのご利用がなくてもご参加いただけます。
◇日時：2021年11月8日(月) 13時～17時，11月9日(火) 10時～16時頃
（1グループ各30分程度を予定）
◇開催形式・場所：機器分析部門棟にて実機を使ってのデモンストレーション
◇申し込み方法：件名を【卓上SEMデモ希望】とし、以下必要事項をメールにて
csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jpまでお送りください。
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ご氏名：
ご所属：
機器分析部門利用の有無： 無 ・ 有
持込み試料の有無（あれば試料の種類）： 無 ・ 有（ ）
※ご都合の悪い日時があればお知らせください。（例：8日14時～15時半不可）
◇申込締切：10月29日正午 （〆切後も、枠に余裕があれば受入れ可能な場合があります。）
お申込み多数の場合は追加日程も検討いたしますので、上記日程でご都合がつかなくても参加をご希望でしたらお知らせください
その他、ご不明な点は機器分析部門（csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp）までお尋ねください。