走査型電子顕微鏡(FE-SEM)故障についてお知らせ(2021.11.11投稿)

研究基盤センター
機器分析部門利用者各位


平素は機器分析部門をご利用いただきまして、ありがとうございます。

現在、走査型電子顕微鏡(FE-SEM)が機器故障のためご利用になれません。
メーカー修理を依頼中です。
お急ぎの場合には、兵庫県立工業技術センターの利用をご検討下さい。
機器が復旧した段階で、予約可能な状態となりますのでお待ちください。

その他、ご利用に関しては機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp)までお問い合わせください。