研究基盤センター 機器分析部門利用者各位
平素は機器分析部門をご利用いただきまして、ありがとうございます。 走査型電子顕微鏡（FE-SEM）が機器故障のためメーカー修理となりましたが、幸い軽微な故障であったことから現在通常通りお使い頂けます。 いつも通り、予約可能な状態ですのでご利用下さい。
その他、ご利用に関しては機器分析部門（csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp）までお問い合わせください。