透過型電子顕微鏡(TEM) 見学・説明会の開催のご案内（2022.02.02投稿)
研究基盤センター機器分析部門
利用者各位
透過型電子顕微鏡(TEM) 見学・説明会の開催のご案内
各位
いつも機器分析部門の運用にご協力いただきまして、ありがとうございます。
このたび、透過型電子顕微鏡(JEOL JEM-1010)の共用開始に先がけ、装置のお披露目と説明会を企画しております。
当部門には走査型透過電子顕微鏡STEM(JEOL JEM-2100F)が設置されており、多くの皆様にご利用いただいておりますが、「使い方が難しい」「オーバースペック気味である」というお声もございました。
JEM-1010は汎用的な100kVTEMであり、本装置の導入によりこれらの不便さを解消することができると考えております。
具体的には、生物試料や高分子材料の観察、STEM観察前のスクリーニングやエントリー機の位置づけとしてお使いいただくことで、皆様の研究データの取得の一助となることを期待しています。
説明会では両装置の特長や使い分けのポイントを中心にお話し、デモンストレーション観察も行いたいと思います。
参加ご希望の方は以下のURLからお申込みください。質問事項等も申込フォームからお寄せください。
（経費負担者もしくはグループリーダーの方からお申込みください）
透過型電子顕微鏡（JEM-1010）見学・説明会
◇日時：2022年3月1日(火) 13時30分より（１～2時間程度を想定。質問事項やデモ観察試料の量により前後します）
◇研究基盤センター：機器分析部門棟２階２０４室
◇申し込み方法：経費負担者もしくはグループリーダーの方から以下のフォームよりお申込みください
（申込フォーム<こちら>をご覧ください）
なお、今後の感染状況等により、１グループあたりの参加人数制限や日時内容等の変更の可能性があることをご了承いただきますようお願い申し上げます。
ご不明な点がございましたら担当までお尋ねください。
よろしくお願い申し上げます。
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担当：高橋（内線６４２０）
MAIL︓ csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp