研究基盤センター
利用者各位
平素は研究基盤センターをご利用いただきまして、ありがとうございます。
六甲台地区(鶴甲2団地を除く)における電気設備定期点検に伴い、機器分析部門棟におきましても下記の日時停電となります。 これに伴い、停止・再起動の必要な機器は停電予定日の前後数日間はご利用になれませんのでお知らせいたします。
      停電日時:令和4年6月19日(日) 午前9時~午後6時まで(予定)
以下の機器は、ご利用になれません。 機器ごとに停止期間は異なりますのでご注意ください。
高分解能走査透過分析電子顕微鏡(STEM)は、6月17日~27日の期間ご利用になれません。
以下の機器は、6月17日~20日の期間、ご利用になれません。
高分解能多機能X線回折装置(XRD)
透過型電子顕微鏡(TEM)
走査型分析電子顕微鏡(SEM1)
電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
走査型光電子分光分析装置(SPES)
原子間力顕微鏡装置(AFM)
可視分光エリプソメータ(ELLIP)
多元素シーケンシャル型ICP発光分光装置(ICP)
全反射蛍光X線分析装置(XRF)
多目的デジタル核磁気共鳴装置(NMR1)
核磁気共鳴装置(NMR2)
電子線マイクロアナライザー(EPMA)
電子スピン共鳴装置1(ESR1)
電子スピン共鳴装置2(ESR2)
ご不便をおかけしますが、宜しくお願いします。
ご不明な点がござましたら、機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp)までお問い合わせください。