研究基盤センター
利用者各位
平素は研究基盤センターをご利用いただきまして、ありがとうございます。
透過型電子顕微鏡（JEM-1010）がご利用になれます
透過型電子顕微鏡（JEM-1010）は、加速電圧が100kVと高分解能分析電子顕微鏡（STEM)よりも試料によっては観察がしやすい装置でもあります。
予約画面よりご予約頂くと透過型電子顕微鏡（JEM-1010）がご利用になれる状況にありますのでご案内いたします。
ご不明な点がござましたら、機器分析部門（csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp）までお問い合わせください。