研究基盤センター 機器分析部門利用者各位
平素は機器分析部門をご利用いただきまして、ありがとうございます。 現在、走査型分析電子顕微鏡(SEM1)が機器故障のためご利用になれません。 メーカーサポート終了機種ですが修理を依頼中です。 機器が復旧した段階で、予約可能な状態となりますのでお待ちください。
その他、ご利用に関しては機器分析部門(csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp)までお問い合わせください。