走査型電子顕微鏡（SEM1）故障のお知らせ（2022.10.26投稿)

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位

いつも機器分析部門の運用にご協力いただきまして、ありがとうございます。

走査型電子顕微鏡（SEM1）故障中のお知らせです。
現在、メーカーと連絡を取って調整しておりますが、問題（製造中止・部品の調達等々）があり復旧の目処が立っておりません。
このため、しばらくの期間はご利用になれません。
ご不便をおかけして申し訳ありませんが、可能な場合には電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）の利用をご検討頂きますようお願いします。

ご不明な点がござましたら、機器分析部門（csrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp）までお問い合わせください。