走査型光電子分光分析装置（XPS/SPES）利用再開のお知らせ（2026.03.10投稿)　

研究基盤センター機器分析部門
利用者各位

平素お世話になっております。

現在、XPS（SPES）においてAlアノードの交換作業が無事終了し、正常に測定可能な状況となっております。
また、これまで使用できなくなっていた「high power」での測定も可能となりました。

なお、今年度より故障していたチェンバーカメラにつきましても、CCDの交換により使用可能となりましたが、カメラの中心位置と測定位置にY方向で＋500 μmのずれがあります。
この調整はチェンバーを開けた際にのみ実施可能なため、次回のメンテナンスのタイミングで調整する予定です。
それまでの間、チェンバーカメラをご利用の際は測定位置のずれにご注意ください。

以上を踏まえ、XPS（SPES）の機器予約および利用を再開いたします。

この度は、XPSの長期停止により利用者の皆様には大変ご不便をおかけしましたこと、心よりお詫び申し上げます。
今後ともどうぞよろしくお願い申し上げます。