<使用機器>
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TEM | DSC |
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GPC | FE-SEM |
機器名 | 型番 | メーカー | 導入年 |
---|---|---|---|
ガスクロマトグラフィー | GC-18A | 島津製作所 | 1998 |
微小圧縮試験機 | DUH-W201 | 島津製作所 | 2000 |
ゲル浸透クロマトグラフィー | GPC-8020 | 東ソー | 2001 |
マイクロチャネル乳化装置 | MS307 | イーピーテック | 2003 |
オートグラフ | AGS-J 100N | 島津製作所 | 2003 |
固液界面解析装置 | DropMaster 300 | 協和界面科学 | 2003 |
光学顕微鏡 | ECLIPSE80i | Nikon | 2003 |
ハイパーグラスター | TEM-V 1000N | 耐圧硝子工業 | 2003 |
大型反応装置 | TAG-20 | 耐圧硝子工業 | 2003 |
SPG膜乳化装置 | KH-125 | SPAテクノ | 2004 |
比表面積・細孔分布測定装置 | NOVA3000 | ユアサアイオニクス | 2004 |
熱分解ガスクロマトグラフィー | GC-2014 | 島津製作所 | 2004 |
濃厚系粒径アナライザー | FPAR-1000 | 大塚電子 | 2004 |
遊星ボールミル | Planet M2-3F | Gokin Planetraring | 2004 |
透過型電子顕微鏡 | JEM-1230 | 日本電子 | 2005 |
ウルトラミクロトーム | EM-UC6 | ライカ | 2005 |
フーリエ変換赤外分光光度計 | FT/IR6200 | 日本分光 | 2005 |
スピニングドロップ界面張力測定装置 | SITEO 100 | Kruss | 2005 |
セクショニング蛍光顕微鏡 | Axio Imager | カールツァイス | 2005 |
微量水分測定装置 | CA-100 | ダイアインスツルメンツ | 2005 |
小型加熱プレス | 冷却仕様 | 井元 | 2005 |
光学顕微鏡用温度調整ステージ | FP900 | Mettler Toledo | 2005 |
光学顕微鏡用高速度カメラ | FASTCAM-512PCI | Photron | 2006 |
カーボンコーター | CADE/39N | メイワフォーシズ | 2006 |
循環式超音波ホモジナイザー | US-1200TCVP | 日本精機製作所 | 2007 |
LB膜作製装置 | KSV minitrough | KSV instruments | 2007 |
走査型電子顕微鏡 (加熱・冷却モジュール付き) | JSM-6510 | 日本電子 | 2009 |
TEMトモグラフィシステム(3D-TEM) | TEMography | システムインフロンティア | 2009 |
あわとり練太郎 (自転/公転方式スーパーミキサー) | AR-100 | THINKY | 2011 |
共焦点レーザー顕微鏡 | C2 | Nikon | 2011 |
粘度計 | DV-Ⅱ+Pro | Photron | 2011 |
電気泳動散乱装置 | LEZA-7000 | 大塚電子 | 2011 |
紫外・可視光分光光度計 | UV-2700 | 島津製作所 | 2013 |
示差走査熱量計 | DSC7000X | 日立ハイテク | 2013 |
示差走査熱重量同時測定装置 | DTA7200 | 日立ハイテク | 2013 |
エネルギー分散型X線分析 | INCAx-act | OXFORD INSTRUMENTS | 2014 |
卓上NMR | NMReady | nanalysis | 2014 |
ウルトラミクロトームクライオシステム | FC-7 | ライカ | 2018 |
ゲル浸透クロマトグラフィー | HLC-8240GPC | 東ソー | 2019 |
デジタルマイクロスコープ | VHX-8000 | キーエンス | 2021 |
クロスセクションポリッシャ | IB-19530CP | 日本電子 | 2021 |
光学顕微鏡 | ECLIPSE8Ni-U | Nikon | 2022 |
電界放出型走査電子顕微鏡 | JSM-IT700HR | 日本電子 | 2023 |
エネルギー分散型X線分析 | JED-2300 | 日本電子 | 2024 |
ゲル浸透クロマトグラフィー | HLC-8240GPC | 東ソー | 2025 |